透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope，简称TEM)，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。TEM的分辨力可达0.2nm。技术参数表：80kv时的分辨率(nm)点分辨率 0.50 nm线分辨率 0.34 nm加速电压 范围 ...
原子力显微镜的基本原理一个弹簧微米大小的悬臂在其自由端有一个锥形的尖端。锥形的尖端有一个非常锐利的尖头，这个尖头通常不到10纳米，可以扫描近乎纳米距离的表面。当尖头在表面移动的时候，锐利尖头上的原子及样品表面的原子之间的范德华力会发生变化，从而使得悬臂产生垂直位移。悬臂的垂直位移可以通过光学的方法进行检测。悬臂背面反射的激光束击中一个四倍光电二极管。该二极管的输出信号与悬臂的垂直运动有关，而悬臂则反过来表征出样品的表面形貌。 原子力显微镜的平面图像由像素点组成，扫描过程中，通过控制压电陶瓷的伸缩来驱动探针在样品表面扫描，记录材料平面坐标信息；通过压电陶瓷的伸缩量变化以及探针的振幅变化量探测并记录材料纵向的物理信息。扫描完每一个点，反馈回路将Z方向压电陶瓷的长度值及探针的振幅值调至预先设定的值，探针再移到下一点进行力接触，记录该点的物理信息。所有信息汇拢，组成一张原子力显微镜图像。如今，原子力显微镜已经成为纳米研究工作的主要工具。除了用于三维纳米成像，原子力显微镜还可以用来测定纳米尺度范围下样品的各种性质。并且，它还可以用于纳米操作和纳米级光刻。原子力电子显微镜工作原理图 上述特征以及BRISK 在生产过程中采用的最先进的技术，使得我们可以为研究人员进行那纳米研究生产绝佳的仪器。Ara Research, 在生产纳米技术设备方面有着20年的经验，今天我们在一款惊人的产品中展示原子力显微镜复杂的功能模式。产品优势：1.简化的纳米成像技术 ：简便的操作和纳米成像用时的缩短使得Brisk的 产品非常的用户友好。2.开发的尖头固定程序 ：您可以在最短的時間内冷静地将尖端固定在 AFM頭中 。3.高倍光学显微镜：使用固定在机器上的一个强大的OM 进行选择扫 描点的初始成像 。4.适用于所有类型...